美国利用纳米孔测序技术开发出高效的转基因插入位点分析方法
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美国科学家团队利用纳米孔测序技术开发了一个高效的转基因插入位点分析方法，研究成果于2019年4月30日在Journal of Experimental Botany（IF 5.354）上在线发表。经过测试，研究者仅用一周的时间就获得了所有51个大豆转化体的Ds插入位置。该方法具有通量高、操作简便、成本低、数据可靠等优势，将成为分析转基因插入位点的高效工具。
（原标题：美国科学家团队利用纳米孔测序技术开发出高效的转基因插入位点分析方法）
（本文来自于澎湃新闻）
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