三星官方回应“7nm EUV良率”:内容与事实完全不符

三星官方回应“7nm EUV良率”:内容与事实完全不符
2019年08月23日 17:34 TechWeb

原标题:三星官方回应“7nm EUV良率”:内容与事实完全不符 来源:TechWeb.com.cn

【TechWeb】近日,有媒体报道称,三星发生良率事故导致高通5G芯片全部报废,针对此事,高通和三星双双否认,称此传闻为谣言。

三星电子刚刚发表声明,表示针对近期部分媒体关于“三星电子7nm EUV良率”的相关报道,内容与事实完全不符。

三星Foundry于今年4月在业内首推以EUV技术为基础的量产产品,并向客户供货。三星电子的最尖端EUV技术,历经长时间的研发并拥有成功量产的经验,目前已达成高技术成熟度以及高良品率,ELUV 先进制程的良率爬坡速度也比之前的制程更快。

以EUV技术为基础的5G产品计划在今年第四季度开始量产。

三星电子 高通

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