清溢光电取得IC掩膜版CD测量机专利,设备最小可测量线缝宽度为0.4um

清溢光电取得IC掩膜版CD测量机专利,设备最小可测量线缝宽度为0.4um
2024年06月18日 07:15 金融界网站

转自:金融界

本文源自:金融界

金融界2024年6月18日消息,天眼查知识产权信息显示,深圳清溢光电股份有限公司取得一项名为“一种IC掩膜版CD测量机“,授权公告号CN221149137U,申请日期为2023年10月。

专利摘要显示,本实用新型公开了一种IC掩膜版CD测量机,包括固定底架、花岗岩基座、XY轴精密中空平台、电气控制系统、透射光源系统、Z轴支架、Z轴精密模组、显微成像系统、主动式隔振机构。本实用新型所提出的一种IC掩膜版CD测量机,实现了对于IC掩膜版的测量,设备最小可测量线缝宽度为0.4um,测量精度与重复精度可达5nm,可兼容多尺寸掩膜版,整机外形尺寸较小,可节省无尘室的宝贵空间。

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