利扬芯片申请分选机测试手臂校正方法专利,有效地提升测试手臂的校正精度和校正效率

利扬芯片申请分选机测试手臂校正方法专利,有效地提升测试手臂的校正精度和校正效率
2024年06月03日 20:05 金融界网站

转自:金融界

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金融界2024年6月3日消息,天眼查知识产权信息显示,广东利扬芯片测试股份有限公司申请一项名为“分选机测试手臂校正方法、装置、设备及存储介质“,公开号CN202410439367.7,申请日期为2024年4月。

专利摘要显示,本发明公开了一种分选机测试手臂校正方法、装置、设备及存储介质,其中分选机测试手臂校正方法包括:先根据数值筛选出最大距离数据和最小距离数据,并计算二者的平均值得到平均距离数据,再通过比较得到大于平均距离数据的距离数据的个数和小于平均距离数据的距离数据的个数以得到第一个数和第二个数,再根据二者的比较结果来确定最佳的校正基准值,本发明分选机测试手臂校正方法有利于简化测试手臂的校正步骤,同时减少每次校正测试手臂的时间,有效地提升测试手臂的校正精度和校正效率。

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