伟测科技取得半导体测试机防呆装置专利,避免由于误触以及误操作机台的对接装置,造成测试针痕异常和跪针的问题

伟测科技取得半导体测试机防呆装置专利,避免由于误触以及误操作机台的对接装置,造成测试针痕异常和跪针的问题
2023年12月05日 20:00 金融界网站

转自:金融界

本文源自:金融界

金融界2023年12月5日消息,据国家知识产权局公告,上海伟测半导体科技股份有限公司取得一项名为“一种半导体测试机防呆装置“,授权公告号CN220137180U,申请日期为2023年3月。

专利摘要显示,本实用新型揭示了一种半导体测试机防呆装置,包括底部框架、对接把手、连杆结构、运动模块、固定模块以及防误碰固件。本实用新型通过设置防误碰固件,当测试机台正常工作时,通过把手拉动滑杆,使得滑杆向上运动,将把手旋转一定角度,使得卡块与卡槽错位,松开手,把手固定在螺纹管上,运动模块在固定模块上来回滑动,当测试机台停止工作时,轻轻拉动把手并旋转,使得卡块与卡槽的位置相对应,松开手,螺纹管内部弹簧的弹力将滑杆弹回固定装置上的固定槽内,此时,即使误触到对接把手,运动模块与固定模块无法发生相对运动,锁定整个装置,避免由于误触以及误操作机台的对接装置,造成测试针痕异常和跪针的问题。

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