江化微申请混酸型纯钼蚀刻液及纯钼膜层的蚀刻方法专利,有效减小钼层的关键尺寸偏差

江化微申请混酸型纯钼蚀刻液及纯钼膜层的蚀刻方法专利,有效减小钼层的关键尺寸偏差
2024年03月05日 07:50 金融界网站

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金融界2024年3月5日消息,据国家知识产权局公告,江阴江化微电子材料股份有限公司申请一项名为“一种混酸型纯钼蚀刻液及纯钼膜层的蚀刻方法“,公开号CN117646215A,申请日期为2023年11月。

专利摘要显示,本发明公开了一种混酸型纯钼蚀刻液,按质量百分比计,主要组成为:2%~7%的硝酸、50%~60%的磷酸、21%~30%的乙酸、2.5%~7%的添加剂以及6%~17%的去离子水;添加剂为选自磷酸盐、硝酸盐、乙酸盐、钼酸盐、磷酸氢盐中两种以上的组合。该混酸型纯钼蚀刻液在硝酸、磷酸和乙酸的混酸体系基础上添加盐,利用优化的各酸组分含量和盐添加剂,调节对纯钼的蚀刻速率,使混酸型纯钼蚀刻液兼容于各种厚度的钼单层蚀刻,蚀刻倾角稳定于40~55°,并且有效减小钼层的关键尺寸偏差,满足各种厚度纯钼层的蚀刻技术要求;该蚀刻液的钼离子负载最高可达5000ppm,使用寿命较长。本发明还公开了一种纯钼膜层的蚀刻方法。

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