永鼎股份申请芯片老化测试设备专利,让芯片的老化测试过程全程由设备进行操作

永鼎股份申请芯片老化测试设备专利,让芯片的老化测试过程全程由设备进行操作
2023年11月23日 09:50 金融界网站

转自:金融界

本文源自:金融界

金融界2023年11月23日消息,据国家知识产权局公告,江苏永鼎股份有限公司申请一项名为“一种芯片老化测试设备“,公开号CN117092495A,申请日期为2023年10月。

专利摘要显示,本发明涉及芯片老化测试技术领域,尤其是指一种芯片老化测试设备,包括恒温恒湿检测箱,所述恒温恒湿检测箱的前端靠上方开设有检测槽,所述恒温恒湿检测箱的前端转动连接有防护盖,所述检测槽内侧设置有测试电板,所述测试电板的顶面上连接有用于连接各种芯片的连接插条,所述测试电板的外侧设置有移动组件,所述移动组件用于带动测试电板水平移动,所述恒温恒湿检测箱的前端靠下方设置有检测模块,所述检测模块用于对芯片进行通电测试,所述恒温恒湿检测箱的外侧设置有连接组件,所述连接组件用于将测试盘与检测模块连接,通过此种设置,让芯片的老化测试过程,全程由设备进行操作,在漫长的时间周期中自行记录老化数据。

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