证券之星消息，根据企查查数据显示广立微（301095）新获得一项外观设计专利授权，专利名为“带晶圆良率分析图形用户界面的计算机显示屏”，专利申请号为CN202330245223.4，授权日为2024年3月22日。
专利摘要：1.本外观设计产品的名称：带晶圆良率分析图形用户界面的计算机显示屏。2.本外观设计产品的用途：用于显示图形用户界面。3.本外观设计产品的设计要点：在于计算机显示屏中的图形用户界面。4.最能表明设计要点的图片或照片：设计1变化状态图1。5.计算机显示屏为惯常设计，省略其他视图。6.指定设计1为基本设计。7.图形用户界面的用途：本外观设计产品用于查看晶圆良率、良率损失情况、相关联测试数据或良率相关因素数据，包括根据时间、产品、测试类型等数据维度的数据筛选、整体良率展示、多种良率损失根源、其他测试类型数据展示、不同数据维度下良率影响项的数据展示，特别包括与测试相关的良率损失项的数据展示，综合各方面数据统计良率与相关数据，可快速判断影响良率的具体方面以实现良率分析的快速切入；界面交互过程：设计1主视图左侧为支持各数据维度筛选的操作栏，右侧上方为良率与良率损失根源“Loss Type”，右侧下方为关联测试数据“Test Loss Type 1”和良率相关因素数据“Impact Type 1”；设计1变化状态图1：在设计1主视图的基础上，选择左侧操作栏中的“DataTime或LoadTime”的时间段后，再依次选择“ProductID、ProductFamily、TestType”中的数据，最后点击左侧操作栏中“Query”生成设计1变化状态图1；设计1变化状态图2至设计1变化状态图6：在设计1变化状态图1的基础上，点击右侧上方位置的良率损失根源“Loss Type”可跳出一数据分析页面，数据分析页面可为各种适用半导体数据的分析图表，如在设计1变化状态图1的基础上，点击“Loss Type 1”跳出一数据分析页面并生成设计1变化状态图2；通过点击设计1变化状态图2中数据分析页面右上角的“X”可关闭数据分析页面，点击“Loss Type 2”跳出一数据分析页面并生成设计1变化状态图3；以此类推，通过数据分析页面右上角的“X”按钮关闭数据分析页面、再点击对应的“Loss Type”再生成包含数据分析页面的变化状态图，如依次生成设计1变化状态图4设计1变化状态图5设计1变化状态图6，当然设计1变化状态图2至设计1变化状态图6中，至少一副变化状态图是否生成和生成顺序根据用户的选择决定；设计1变化状态图7至设计1变化状态图9：在设计1变化状态图6的基础上，点击设计1变化状态图6中数据分析页面右上角的“X”进行数据分析页面关闭，再点击右侧下方位置的“more”按钮可跳出一数据分析页面，数据分析页面可为各种适用半导体数据的分析图表，如在设计1变化状态图6的基础上，点击设计1变化状态图6中数据分析页面右上角的“X”进行数据分析页面关闭，点击“Impate Type 1”模块的“more”按钮，跳出一数据分析页面并生成设计1变化状态图7；在设计1变化状态图7的基础上，点击设计1变化状态图7中数据分析页面右上角的“X”关闭数据分析页面，点击“Impate Type 3”模块的“more”按钮，跳出一数据分析页面并生成设计1变化状态图8；在设计1变化状态图8的基础上，点击设计1变化状态图8中数据分析页面右上角的“X”关闭数据分析页面，点击“Impate Type 5”模块的“more”按钮，跳出一数据分析页面并生成设计1变化状态图9，设计1变化状态图7至设计1变化状态图9的生成顺序不固定。设计2各变化状态图的交互方式和用途与设计1均相似，“区别仅在于设计 2 各变化状态图在右侧上方的良率损失根源和测试相关的良率损失项均增加展示部分统计数据。
今年以来广立微新获得专利授权8个，较去年同期增加了33.33%。结合公司2023年中报财务数据，2023上半年公司在研发方面投入了9313.46万元，同比增98.72%。
数据来源：企查查
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