中科飞测-U申请光学设备和检测方法专利,能够对光束的质量进行改善,从而提高光学设备的性能

中科飞测-U申请光学设备和检测方法专利,能够对光束的质量进行改善,从而提高光学设备的性能
2024年06月21日 08:05 金融界网站

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金融界2024年6月21日消息,天眼查知识产权信息显示,深圳中科飞测科技股份有限公司申请一项名为“光学设备和检测方法“的专利,公开号CN202211595537.8,申请日期为2022年12月。

专利摘要显示,一种光学设备和检测方法,所述光学设备包括:第一镜组,用于使不同预设波长的多束入射光束汇聚;光路调节模块,包括第一补偿组件和扩束器中的一者或两者的组合,所述第一补偿组件至少设置于其中一束入射光束的入射光路上,所述第一补偿组件用于减小所述第一镜组对不同预设波长的入射光束的色散;扩束器用于对入射至扩束器的入射光束进行扩束并使扩束后的入射光束进入第一镜组;和/或,扩束器用于对第一镜组收集的出射光束进行缩束。本发明通过设置第一补偿组件和扩束器中的一者或两者的组合,能够对光束的质量进行改善,从而提高光学设备的性能。

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