TCL科技申请提高器件良品率的方法及测试设备专利,能够提高器件的良品率

TCL科技申请提高器件良品率的方法及测试设备专利,能够提高器件的良品率
2024年06月21日 08:20 金融界网站

转自:金融界

本文源自:金融界

金融界2024年6月21日消息,天眼查知识产权信息显示,TCL科技集团股份有限公司申请一项名为“提高器件良品率的方法及测试设备“,公开号CN202211641514.6,申请日期为2022年12月。

专利摘要显示,本发明提供了提高器件良品率的方法及测试设备,涉及光电技术领域。提高器件良品率的方法包括:提供器件;利用紫外光照射器件。本发明提供的提高器件良品率的方法能够提高器件的良品率。

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