利扬芯片申请射频芯片性能测试专利，能够减少芯片测试时间，从而提高测试效率以及降低了测试成本。_新浪财经

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金融界2024年6月7日消息，天眼查知识产权信息显示，广东利扬芯片测试股份有限公司申请一项名为“一种射频芯片性能测试方法及装置“，公开号CN202410289339.1，申请日期为2024年3月13日。

专利摘要显示，本公开揭示了一种射频芯片性能测试方法及装置，所述方法包括：对待测射频芯片初始化；采集初始化后的待测射频芯片的输出信号；对所述待测射频芯片的输出信号进行解调以获得基带信号，并基于混合基算法将基带信号由时域转换为频域，以获得频谱图；基于所述频谱图对待测射频芯片的性能进行测试。本公开通过采用混合基算法将解调后的基带信号由时域转换到频域，能够减少芯片测试时间，从而提高测试效率以及降低了测试成本。

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