广立微申请失效点分析方法、装置、计算机设备和存储介质专利，提高了测试结果数据点的失效类型编码的效率|计算机设备_新浪财经

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金融界2024年6月4日消息，天眼查知识产权信息显示，杭州广立微电子股份有限公司申请一项名为“失效点分析方法、装置、计算机设备和存储介质“，公开号CN202410552392.6，申请日期为2024年5月。

专利摘要显示，本申请涉及一种失效点分析方法、装置、计算机设备和存储介质，其中，失效点分析方法包括：对测试结果的数据点进行逐行遍历，确定各数据点的失效类型编码，并构建关系数组；该关系数组表示：各失效类型编码之间的连接关系；对各数据点再次进行逐行遍历，根据关系数组对各数据点的失效类型编码进行更新；根据更新后的失效类型编码，对各数据点的失效类型进行图形显示。采用本申请的方法，提高了测试结果数据点的失效类型编码的效率。

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