三利谱申请偏光片快速测试专利,可以便携测量偏光片样品的单体透过率与偏振度

三利谱申请偏光片快速测试专利,可以便携测量偏光片样品的单体透过率与偏振度
2024年06月04日 10:10 金融界网站

转自:金融界

本文源自:金融界

金融界2024年6月4日消息,天眼查知识产权信息显示,深圳市三利谱光电科技股份有限公司申请一项名为“一种偏光片透过率、偏振度快速测试平台“,公开号CN202410191129.9,申请日期为2024年2月。

专利摘要显示,本发明公开一种偏光片透过率、偏振度快速测试平台,包括光源、起偏器和亮度计;光源采用白色背光源;起偏器采用吸收型偏光片,安装在光源的上方;亮度计固定在起偏器的上方。本发明可以便携测量偏光片样品的单体透过率与偏振度,可以快速得到结果,并进行工艺调整等后续工作,结构简单,成本低廉。

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