长光华芯取得多结垂直腔面发射半导体发光结构及其制备方法专利,降低发光结构最终的远场发散角

长光华芯取得多结垂直腔面发射半导体发光结构及其制备方法专利,降低发光结构最终的远场发散角
2024年06月21日 11:10 金融界网站

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金融界2024年6月21日消息,天眼查知识产权信息显示,苏州长光华芯光电技术股份有限公司取得一项名为“一种多结垂直腔面发射半导体发光结构及其制备方法“,授权公告号CN118040474B,申请日期为2024年4月。

专利摘要显示,本申请公开了一种多结垂直腔面发射半导体发光结构及其制备方法,其中一种多结垂直腔面发射半导体发光结构包括:衬底;位于衬底一侧且依次堆叠设置的第一布拉格反射镜、谐振腔、第二布拉格反射镜、欧姆接触层和P面电极;谐振腔包括至少两个有源层,相邻的有源层之间通过隧道结层连接;每一有源层远离衬底的一侧设置有氧化层,每一氧化层设置有开口区域;P面电极包围的出光区设置有环形凹槽,环形凹槽内覆盖有调制金属层。本申请公开的一种多结垂直腔面发射半导体发光结构及其制备方法,通过设计环形凹槽并在环形凹槽内形成调制金属层,引入了外延结构之外的损耗层,降低发光结构最终的远场发散角。

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