尼得科精密检测科技株式会社将参展于 2026年8月26日（星期三）～8月28日（星期五）在深圳国际会展中心参展举办的“PCIM Asia Shenzhen 2026”。
集了电力转换、控制、供应等电力电子领域的技术和产品。
在本次展览会上，我公司将介绍与IGBT/SiC等功率半导体相关的前沿检测技术及检测产品。
此次将展示以下主力产品，并介绍有助于提升产品品质的解决方案。
〈亮点产品〉
■IGBT/SiC 功率半导体模块绝缘、静态特性及动态特性检测系统“NATS®-1000/1730”
这是一款最适合功率半导体模块出货前最终检测的检测系统。除了可对常温绝缘、高温静态特性、高温动态特性、常温静态特性这四个项目进行并行测试的自动检测设备外，我们还将为您介绍在研发阶段发挥作用的手动检测装置。
■IGBT/SiC 功率半导体内置 PCB 测试系统 “NATS®-2120”
这是一款面向搭载了处理大功率、高电压功率半导体PCB及模块的检测设备。它能有效预防在高负荷环境下可能发生的误动作和热损坏，即使在严苛条件下也能确保产品的高质量。
〈展会概要〉
・会期：2026年8月26日（星期三）～8月28 日（星期五）
・会场：深圳国际会展中心（宝安馆）
・展位：16H15
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