MVG推出SpeedProbe DL解决方案：有源相控阵天线校准速度提升至5倍

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天线测量解决方案领导者Microwave Vision Group近日宣布在2025年IDEX国际防务展上正式推出其全新解决方案 SpeedProbe DL，该展会汇聚了来自超过65个国家的参展商和国际代表团。MVG首席商务官 Pierre Jurek 和销售总监 Per Noren 在展会期间向国际防务代表团、参展企业及参观者展示了SpeedProbe DL解决方案如何通过相较于单探头系统高达5倍的校准速度，显著提升有源相控阵天线在防务领域的测试效率与性能。

MVG销售总监Per Noren表示：“SpeedProbe DL解决方案 在IDEX展会上一经推出，即收到了非常热烈的反响。客户普遍认为这是一次真正的技术创新，不仅加快了天线校准速度，还带来了可观的投资回报。该系统支持从L波段到Ku波段的灵活多探头配置，帮助客户在提升测试效率的同时，为未来的技术演进做好准备，满足了防务及航空航天行业长期以来的迫切需求。”

有源相控阵天线校准的创新方式

SpeedProbe DL 可通过简单的硬件升级，将现有单探头系统扩展为多探头系统，大幅提升防务类天线产品的测试效率，特别适用于批量化生产场景。

为什么选择升级？

●   高达5倍更快的校准效率：显著缩短有源相控阵天线的测试周期。

●   可定制的多探头阵列：支持从L波段至Ku波段的宽频覆盖，采用多颗微型化探头，适应多样化测试需求。

●   实时测量能力：自动化实现波束指向、增益及方向图测量分析。

●   极低停机时间：探头模块易于更换，系统维护便捷。

●   高投资回报率：具备良好的长期成本效益及可扩展性。

SpeedProbe DL 提供了一种灵活可扩展的测量解决方案，帮助防务行业用户在保障校准一致性和高性能的同时，显著提高整体测试效率并降低长期运营成本。