消息称三星电子 1c nm DRAM 内存良率已突破量产盈亏平衡点

消息称三星电子 1c nm DRAM 内存良率已突破量产盈亏平衡点
2026年01月17日 15:28 IT之家

IT之家 1 月 17 日消息,韩媒 IT Chosun 昨日报道称,三星电子的第六代 10 纳米级 DRAM 内存制程工艺(IT之家注:即 1c nm)目前的良率已提升至约 60%,突破了量产盈亏平衡点

此举被视为一项重要里程碑,因为三星电子 HBM4 内存便基于 1c nm DRAM。DRAM Die 的更高良率有助于三星在 HBM4 上获得更多的利润,进一步提升业绩表现。

报道表示,三星电子在 1c DRAM 上一改近期以良率优先、谨慎推动量产进程的策略,回到了快速进入量产以更积极回应市场动态的传统模式,这有利于从英伟达等重要客户手中赢得订单。

TrendForce 集邦咨询此前表示,在规格要求提升、现有 HBM3E 平台需求旺盛的推动下,HBM 内存的量产时间点最快将于 2026Q1 末到来,三星电子、SK 海力士、美光仍有时间精进产品良率表现

新浪科技公众号
新浪科技公众号

“掌”握科技鲜闻 (微信搜索techsina或扫描左侧二维码关注)

创事记

科学探索

科学大家

苹果汇

众测

专题

官方微博

新浪科技 新浪数码 新浪手机 科学探索 苹果汇 新浪众测

公众号

新浪科技

新浪科技为你带来最新鲜的科技资讯

苹果汇

苹果汇为你带来最新鲜的苹果产品新闻

新浪众测

新酷产品第一时间免费试玩

新浪探索

提供最新的科学家新闻,精彩的震撼图片