来源：EETOP
PART 1
研讨会基本信息
NI测试测量技术研讨会再次由深圳起航，以AI+测试为主题，走遍十个城市，与全国各地朋友相聚，共同探讨AI+测试的落地，共赢智能测试的未来。
PART 2
为什么参会？
分享最新AI+测试进展，深入探讨如何实现技术落地
技术专家面对面分享：最新测试技术成果，提高测试精度技巧，并为您解读各种疑难问题
多款全新软硬件产品发布，AI助手Nigel™，全新PXI控制器/机箱/模块，全新DAQ产品，全新USRP产品
PART 3
谁适合参加？
测试测量工程师、研发工程师
工程团队负责人，技术总监
院校及研究所研究人员
LabVIEW爱好者，开发者
PART 4
日程安排
PART 5
实机展示
NI Nigel™ AI助手体验
通过配置快速完成PXI自动化测试任务（InstrumentStudio™软件展示）
快速完成传感器配置与数据记录（FlexLogger™软件展示）
射频通信原型验证平台USRP更新
全新数据采集产品（DAQ）更新
24bit高精度模数转换芯片（ADC）芯片测试系统
多通道、大电流电源管理芯片(PMIC)测试系统
全新双通道矢量信号收发仪VST-5860
在看点一下
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